Untersuchung der Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern mit kosmischer Strahlung an der Neutronenquelle ISIS in Zusammenarbeit mit dem KMU-Unternehmen SwissSEM und der FHNW

In der ersten Maiwoche führte unser Team zusammen mit dem KMU-Unternehmen SwissSEM und der Fachhochschule Nordwestschweiz (FHNW) eine Messkampagne an der ChipIr-Beamline der Neutronenquelle ISIS durch. Wir haben die Auswirkungen von kosmischer Strahlung auf die Zuverlässigkeit von nanoskaligen Oxidschichten in Leistungshalbleitern untersucht. Die Ergebnisse helfen SwissSEM, das Versagen von Bauteilen durch kosmische Neutronen besser zu verstehen und die Entwicklung von robusteren Leistungshalbleitern zu ermöglichen.